普洛帝液體微粒子計數(shù)器 液中パーティクルカウンター PARTICLE COUNTER

標(biāo)準(zhǔn)名稱：普洛帝液體微粒子計數(shù)器 

日文名稱：液中パーティクルカウンタ

英文名稱：PARTICLE COUNTER

韓文名稱：?? ???

儀器型號：PMT-2

普洛帝液體微粒子計數(shù)器 液中パーティクルカウンター PARTICLE COUNTER產(chǎn)品的應(yīng)用

• 
  

• 用于超純水的粒子污染管理

  。

• 傳感器與質(zhì)量流調(diào)節(jié)器一體

  、直接設(shè)置在超純水線上

  、監(jiān)視工藝過程

  。

• 支持高壓500kPa（表壓）

• 標(biāo)配D/A 轉(zhuǎn)換器（4-20mA）

  、報警輸出接點

  。

• LAN口通訊，Modbus通訊協(xié)議

  。

• 普洛帝液體微粒子計數(shù)器在半導(dǎo)體行業(yè)的測試和應(yīng)用

  。

普洛帝液體微粒子計數(shù)器 液中パーティクルカウンター PARTICLE COUNTER產(chǎn)品的標(biāo)準(zhǔn)方法

GB/T 33087-2016儀器分析用高純水規(guī)格及試驗方法

GB/T 30301-2013高純試劑試驗方法通則

GB/T 28159-2011電子級磷酸

GB/T 12963-2014電子級多晶硅

GB/T 31369-2015太陽電池用電子級氫氟酸

ISO   13319:2007粒度分析 電阻法

ISO   21501-3:2007粒度分析 單顆粒的光學(xué)測量方法：第3部分：液體顆粒計數(shù)器光阻法

ISO   21501-2:2007粒度分析 單顆粒的光學(xué)測量方法：第2部分：液體顆粒計數(shù)器光散射法

ISO   21501-1:2007單粒與光相互作用測定粒度分布的方法 第1部分：單粒與光相互作用

ISO   20998-2:2013超聲法顆粒測量與表征 第2部分：線性理論準(zhǔn)則

ISO   20998-1:2006超聲法顆粒測量與表征 第1部分：超聲衰減譜法的概念和過程

ISO   22412:2008粒度分析 動態(tài)光散射法(DLS)

ISO   13317-1:2001粒度分析 液體重力沉降法 第1部分：通則

ISO   15901-3:2007壓汞法和氣體吸附法測定固體材料孔徑分布和孔隙度 第3部分：氣體吸附法分析微孔

ISO   15901-2:2006壓汞法和氣體吸附法測定固體材料孔徑分布和孔隙度 第2部分：氣體吸附法分析介孔和大孔

ISO   15901-1:2005壓汞法和氣體吸附法測定固體材料孔徑分布和孔隙度 第1部分：壓汞法

ISO   13322-1:2004粒度分析 圖像分析法 第1部分：靜態(tài)圖像分析法

ISO   14887:2000樣品制備-粉末在液體中的分散方法

ISO   13321:1996粒度分析--光子相關(guān)光譜法

ISO   13320:2009粒度分析 激光衍射法

ISO   9276-5:2005粒度分析結(jié)果的表述 第6部分：顆粒形狀和形態(tài)的定性和定量表述

ISO   9276-5:2005粒度分析結(jié)果的表述 第5部分：用對數(shù)正態(tài)概率分布進行粒度分析的計算方法

ISO   9276-4:2001粒度分析結(jié)果的表述-第4部分：分級過程的表征

ISO   9276-2:2001度分析結(jié)果的表述-第2部分：由粒度分布計算平均粒徑/直徑和各次矩

ISO   9276-1:1998粒度分析結(jié)果的表述 第1部分：圖形表征

GB/T   21649.2-2017粒度分析 圖像分析法 第2部分：動態(tài)圖像分析法

GB/T   29024.4-2016粒度分析 單顆粒的光學(xué)測量方法 第4部分：潔凈間光散射塵埃粒子計數(shù)器

GB/T   31057.1-2014顆粒材料 物理性能測試 第1部分：松裝密度的測量

GB/T   29025-2012粒度分析 電阻法

GB/T   29024.3-2012粒度分析 單顆粒的光學(xué)測量方法：第3部分：液體顆粒計數(shù)器光阻法

GB/T   29024.2-2016粒度分析 單顆粒的光學(xué)測量方法：第2部分：液體顆粒計數(shù)器光散射法

GB/T   29023.2-2016超聲法顆粒測量與表征 第2部分：線性理論準(zhǔn)則

GB/T   29023.1-2012超聲法顆粒測量與表征 第1部分：超聲衰減譜法的概念和過程

GB/T   29022-2012粒度分析 動態(tài)光散射法(DLS)

GB/T   26647.1-2011單粒與光相互作用測定粒度分布的方法 第1部分：單粒與光相互作用

GB/T   26645.1-2011粒度分析 液體重力沉降法 第1部分：通則

GB/T   25863-2010不銹鋼燒結(jié)金屬絲網(wǎng)多孔材料及其元件

GB/T   21650.3-2011壓汞法和氣體吸附法測定固體材料孔徑分布和孔隙度 第3部分：氣體吸附法分析微孔

GB/T   21650.2-2008壓汞法和氣體吸附法測定固體材料孔徑分布和孔隙度 第2部分：氣體吸附法分析介孔和大孔

GB/T   21650.1-2008壓汞法和氣體吸附法測定固體材料孔徑分布和孔隙度 第1部分：壓汞法

GB/T   21649.1-2008粒度分析 圖像分析法 第1部分：靜態(tài)圖像分析法

GB/T   20099-2006樣品制備-粉末在液體中的分散方法

GB/T   19627-2005粒度分析--光子相關(guān)光譜法

GB/T   19077-2016粒度分析 激光衍射法

GB/T   16742-2008顆粒粒度分布的函數(shù)表征 冪函數(shù)

GB/T   16418-2008顆粒系統(tǒng)術(shù)語

GB/T   15445.6-2014粒度分析結(jié)果的表述 第6部分：顆粒形狀和形態(tài)的定性和定量表述

GB/T   15445.5-2011粒度分析結(jié)果的表述 第5部分：用對數(shù)正態(tài)概率分布進行粒度分析的計算方法

GB/T   15445.4-2006粒度分析結(jié)果的表述-第4部分：分級過程的表征

GB/T   15445.2-2006粒度分析結(jié)果的表述-第2部分：由粒度分布計算平均粒徑/直徑和各次矩

GB/T   15445.1-2008粒度分析結(jié)果的表述 第1部分：圖形表征

GB/T   16944-2009電子工業(yè)用氣體 氮

GB/T   16945-2009電子工業(yè)用氣體 氬

GB/T   16942-2009電子工業(yè)用氣體 氫

GB/T   14604-2009電子工業(yè)用氣體 氧

GB/T   16943-2009電子工業(yè)用氣體 氦

GB/T   14600-2009電子工業(yè)用氣體 氧化亞氮

GB/T   14601-2009電子工業(yè)用氣體 氨

GB/T   18867-2014電子工業(yè)用氣體 六氟化硫

GB/T   8979-2008純氮、高純氮和超純氮

GB/T   4842-2006氬

GB/T   3634.2-2011氫氣    第2部分：純氫